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    產(chǎn)品中心

    Product Center

    薄金鍍層測厚儀

    產(chǎn)品簡介

    鍍層厚度分析儀,iEDX-150T(S)薄金鍍層測厚儀主要針對超薄鍍層(例如金、鈷、銫,鑭等)進(jìn)行分析的測厚儀器,其測試范圍大,更可選配電鍍液離子濃度分析功能。

    產(chǎn)品型號:iEDX-150T(S)
    更新時(shí)間:2025-04-15
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    訪問量:1949
    詳細(xì)介紹在線留言
    品牌SENSEXRF/善時(shí)價(jià)格區(qū)間面議
    產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域綜合
    測試下限0.0125um探測器大計(jì)數(shù)率SDD
    平臺(tái)操作三維自動(dòng)平臺(tái)

    一、iEDX-150T(S)薄金鍍層測厚儀主要參數(shù):

    1、多鍍層分析,可分析鍍層1~5層(不含基材);

    2、測試示值:0.001 μm,最薄可測厚度為0.0125μm;

    3、元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);

    4、測量時(shí)間:10~30秒可選;

    5、SDD探測器,能量分辨率為125eV;

    6、探測器Be窗0.5mil(12.7μm);

    7、微焦X射線管50kV/1mA,鉬,銠靶(高配微焦鉬靶);

    8、標(biāo)配6個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片,且自動(dòng)切換;

    9、XYZ三維全自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),荷載最*大為5公斤;

    10、高清CCD攝像頭(200萬像素),準(zhǔn)確監(jiān)控位置;

    11、多變量非線性去卷積曲線擬合;

    12、高性能FP/MLSQ分析;

    13、儀器尺寸:618×525×490mm;

    14、樣品臺(tái)尺寸:230×220mm;

    15、樣品臺(tái)移動(dòng)范圍:前后左右各80mm、高度90mm;

    16、樣品倉尺寸:395×400×102mm。


    二、圖譜界面:

    1、軟件支持無標(biāo)樣分析;

    2、寬大分析平臺(tái)和樣品腔;

    3、集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面;

    4、采用多種光譜擬合分析處理技術(shù);

    5、鍍層測厚分析精度可達(dá)到0.001μm。


    三、分析報(bào)告結(jié)果:

    1、直接打印分析報(bào)告;
    2、報(bào)告可轉(zhuǎn)換為PDF,EXCEL格式。


    四、iEDX-150T(S)薄金鍍層測厚儀樣品分析圖譜:


     

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