鍍層測(cè)厚儀

一、iEDX-150T鍍層測(cè)厚儀主要參數(shù):

1、多鍍層分析，1～5層(不含基材）；

2、測(cè)試精度：0.001 μm；

3、元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)；

4、測(cè)量時(shí)間：10~30秒；

5、SDD探測(cè)器，能量分辨率為125±5eV；

6、探測(cè)器Be窗0.5mil（12.7μm）；

7、微焦X射線管50kV/1mA，鉬，銠靶（高配微焦鉬靶）；

8、標(biāo)配6個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片自動(dòng)切換；

9、XYZ三維全自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，荷載最*大為5公斤；

10、高清CCD攝像頭（200萬像素），準(zhǔn)確監(jiān)控位置；

11、多變量非線性去卷積曲線擬合；

12、高性能FP/MLSQ分析；

13、儀器尺寸：618×525×490mm；

14、樣品臺(tái)尺寸：230×220mm；

15、樣品臺(tái)移動(dòng)范圍：前后左右各80mm、高度90mm；

16、樣品倉尺寸：395×400×102mm。

二、圖譜界面:

1、軟件支持無標(biāo)樣分析；

2、寬大分析平臺(tái)和樣品腔；

3、集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面；

4、采用多種光譜擬合分析處理技術(shù)；

5、鍍層測(cè)厚分析精度可達(dá)到0.001μm。

三、分析報(bào)告結(jié)果:

1、直接打印分析報(bào)告；
2、報(bào)告可轉(zhuǎn)換為PDF，EXCEL格式。

四、iEDX-150T鍍層測(cè)厚儀樣品分析圖譜:

測(cè)試結(jié)果界面: